XRF - Setting Up Sample
Codice prodotto
XRF-WC
Formato del prodotto
Solid
Matrice
Monitor Glass
Categorie di prodotto
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Informazioni sul prodotto
Dati analiti
Nome dell'analita
Concentrazione
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Aluminium oxide
25.00 %
Calcium difluoride
20.00 %
Iron (III) Oxide
0.80 %
Magnesium oxide
5.00 %
Phosphorus pentoxide
0.15 %
Silicon dioxide
38.10 %
Sodium oxide
10.00 %
Titanium dioxide
0.80 %
Vanadium oxide
0.15 %
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Numero CAS
CAS alternativo
CAS non marcato
Formula molecolare
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Peso molecolare
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Massa accurata
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Melting Point
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Appearance/Form
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SMILES
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InChI
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IUPAC
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Aluminium oxide
Massa accurata
101.9478
SMILES
O=[Al]O[Al]=O
InChI
InChI=1S/2Al.3O
IUPAC
oxo(oxoalumanyloxy)alumane
Calcium difluoride
Massa accurata
-
Iron (III) Oxide
Massa accurata
159.8546
SMILES
O=[Fe]O[Fe]=O
InChI
InChI=1S/2Fe.3O
IUPAC
oxo(oxoferriooxy)iron
Magnesium oxide
Massa accurata
39.98
SMILES
O=[Mg]
InChI
InChI=1S/Mg.O
IUPAC
oxomagnesium
Phosphorus pentoxide
Massa accurata
141.9221
SMILES
O=P(=O)OP(=O)=O
InChI
InChI=1S/O5P2/c1-6(2)5-7(3)4
Silicon dioxide
Massa accurata
59.9668
SMILES
O=[Si]=O
InChI
InChI=1S/O2Si/c1-3-2
IUPAC
Silicon dioxide
Sodium oxide
Massa accurata
-
SMILES
[Na]O[Na]
Titanium dioxide
Massa accurata
79.9378
SMILES
O=[Ti]=O
InChI
InChI=1S/2O.Ti
IUPAC
dioxotitanium
Vanadium oxide
Massa accurata
181.8625
SMILES
O=[V](=O)O[V](=O)=O
InChI
InChI=1S/5O.2V
IUPAC
dioxovanadiooxy(dioxo)vanadium
Informazioni su stoccaggio e trasporto
Temperatura di conservazione
Room Temperature
Temperatura di spedizione
Room Temperature
Paese di origine
CZECH REPUBLIC
Caratteristiche del prodotto
Formato del prodotto
Solid
Matrice
Monitor Glass
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